DIN EN 60749-37-2008 半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-09 08:53:31  浏览:8912   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part37:Boardleveldroptestmethodusinganaccelerometer(IEC60749-37:2008);GermanversionEN60749-37:2008
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法
【标准号】:DINEN60749-37-2008
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2008-08
【实施或试行日期】:2008-08-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速测量仪表;加速度计;应用;壳体;气候的;气候试验;元件;定义;设计;跌落试验;电气工程;电子的;电子设备及元件;故障分析;故障标准;仪器;力学;机械工人;机械试验;印制电路板;半导体器件;半导体;标准化;测试
【英文主题词】:Accelerationmeasuringinstruments;Accelerometers;Applications;Bodies;Climatic;Climatictests;Components;Definition;Definitions;Design;Droptests;Electricalengineering;Electronic;Electronicequipmentandcomponents;Failureanalysis;Failurecriterion;Instruments;Mechanic;Mechanicaltesting;Printed-circuitboards;Semiconductordevices;Semiconductors;Standardizations;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:22P.;A4
【正文语种】:德语